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XRF Scanner 樣芯元素掃描分析系統

更新時間：2025-07-01

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XRF Scanner 樣芯元素掃描分析系統是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基礎上研制生產，主要用于巖礦樣芯及沉積樣芯元素快速精確高靈敏度掃描分析，分為 SC 單樣芯掃描分析系統（每次裝載一個樣芯）和 MC 多樣芯（每次可裝載多個樣芯進行分析）掃描分析系統兩個版本。

產品介紹

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XRF Scanner 樣芯元素掃描分析系統是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基礎上研制生產，主要用于巖礦樣芯及沉積樣芯元素快速精確高靈敏度掃描分析，分為 SC 單樣芯掃描分析系統（每次裝載一個樣芯）和 MC 多樣芯（每次可裝載多個樣芯進行分析）掃描分析系統兩個版本。

原理

XRF Scanner 樣芯元素掃描分析系統采用XRF、數字X-射線密度成像和高分辨率數字光學成像技術，非破壞性測量，獲得樣品高分辨率的數碼圖像，然后利用系統軟件對所得圖像和元素信息進行分析。

主要技術特點

與其他XRF掃描儀相比，Itrax XRF掃描儀為所有元素提供了單位時間和長度的XRF數據質量，以及更高的樣品通量
可對樣芯一次性掃描分析從 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素）濃度及分布
測量不使用氦氣，降低運行成本
結實耐用，輕松完成 24小時/7天無人值守操作
Itrax掃描儀是惟一一款可在一次掃描中確定所有元素的XRF掃描儀，同時為每個確定的元素提供數據
Itrax XRF是惟一一臺在連續樣品掃描中不會因降低或升高掃描頭而降低能力的XRF掃描儀
非接觸式分析與非常小的掃描頭相結合，使Itrax XRF掃描儀非常擅長處理樣品裂縫和斜坡——而不會破壞樣品和數據
對于XRF分析，Itrax每單位步長分析所需時間僅為1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步長也是如此，與其它設備相比，具有*的高通量優勢
Polyflat™X-光聚集技術，非接觸性元素掃描分析，Micro X-光束對每個點精確掃描分析并可進行平均，如沿樣芯每厘米的平均濃度或整個樣芯的平均濃度
可分析元素相位分布及相關關系
具 RGB 高分辨率彩色鏡頭及 LED 光源、樣品條碼掃描器
軟件包功能非常強大

應用案例一

通常情況下，頁巖具有豐富的地質化學組成和痕量金屬元素，可以反映其沉積環境、起源、成巖作用等。ITRAX 實驗室應客戶需求利用 XRF Scanner,以每點（point）每秒 1厘米的步進速度，對波羅的海 Oland 島的頁巖進行了掃描分析，分析記錄了 2400 個點的元素數據（每個點代表頁巖樣芯剖面 1cm 的測量數據），發現有 30 多種元素，包括一些主要元素如Al、 Si、K、Ca、Ti、Fe，微量元素如 P、Cl、S、Mn、Rb、Sr，及痕量元素 V、Cr、Ni、Cu、Zn、 As、Br、Y、Zr、Mo、Nb、Ba、Pb、Th、U。結果表明，頁巖樣芯富含典型的粘土元素如Al、 K、Ti和Rb，同時TOC（總有機碳）代理元素如V、Ni、Mo及U也很典型。這意味著成巖作用在水底部缺氧、富含硫化物。

應用案例二

另一個案例為來自澳大利亞塔斯馬尼亞州的富于稀土元素的巖礦樣芯，XRF Scanner不僅給出了樣芯各種元素的濃度，還可以顯示樣芯剖面各種元素的濃度分布，而且通過元素濃度相關分析，可以識別鑒定礦相（Mineral phases），如本樣芯 Y（釔）與所有其它記錄到的稀土元素（如 Nb、Ce、Pr、Nd、Dy）存在高度相關關系，這意味著 XRF 譜線中所有稀土元素都屬同一礦相。