SpectraScan高光譜成像掃描平臺，是易科泰基于PTS（Plant-To-Sensor）樣品自動傳送技術推出的一體化高光譜數據采集分析系統。集平臺控制、樣品傳送、全自動數據采集、反射光譜校準及暗噪聲去除等流程于一體。可對植物葉片或整株植物、根系、果實、種子等不同組織部位進行反射光高光譜成像分析，實現高通量、無損傷表型成像分析等。

主要特點如下：

? 嵌入式操作系統+PC端GUI軟件雙重控制

? 高光譜成像分析（反射光譜），400-1000nm、900-1700nm、1000-2500nm可選

? 可選配UV-MCF成像分析，可同時獲得藍色、綠色、紅色及遠紅波段的熒光光譜成像，不僅可對生物熒光在二維尺度上進行成像分析，還可以在高光譜維度上進行熒光光譜分析

? 全中文GUI軟件：可設置白板、暗參考、樣品采集起始點、結束點位置，一鍵啟動，平臺自動移動并同步自動數據采集

? 軟件內置算法模型，自動執行歸一化反射率校準及暗噪聲剔除校準

? SpectrAPP高光譜數據分析軟件：具備多模式圖像顯示、波段融合、感興趣區分析、光譜指數分析、光譜曲線繪制、光譜特征統計、直方圖統計、形態分析、剖面分析等多種功能

? 應用于植物冠層/根系表型分析、種質資源檢測研究、果蔬及食品品質、中藥材、土壤/礦物、固廢檢測等實驗室光譜成像分析

主要技術指標：

1) 嵌入式主控系統，全中文操作界面，觸控屏+PC端GUI軟件雙重控制，可無線控制

2) 標配成像面積：30×30cm，可客戶定制其他規格

3) 成像高度：400mm，可調

4) 平臺移動速度：1-30mm/s，可調

5) 光源：系統同時集成全太陽光譜線性光源，對稱入射，角度、高度可調

6) 400-1000nm高光譜成像： 線性推掃成像，CMOS探測器，出廠全光譜校準，光譜采樣間隔優于1.35nm，光譜波段超400，具備多光譜成像功能，可根據需求自由選擇感興趣波段，最大稱度減少數據冗余，提高光譜成像大數據處理分析效率，節省存儲空間，可分段選擇波段范圍

7) 可成像分析植物生化、生理指標、光利用效率、健康指數、覆蓋度、脅迫等近百種參數

8) SWIR高光譜成像（選配）：900-1700nm，可成像測量分析NDNI歸一化N指數、NDWI歸一化水指數、MSI水分脅迫指數等，可分析土壤有機碳及總氮狀態

9) Thermo-RGB成像（選配）：同時具備紅外熱成像及RGB成像分析功能和融合分析功能，2000萬像素RGB分辨率，采用多點精準融合技術，精確提取植物等目標紅外熱成像，可實現植物葉片/冠層溫度分析、形態分析、顏色空間分析

10) 專業根系分析軟件（選配），分析根系總長、總面積、總體積、根尖、分叉和交疊、根系直徑等級等參數，也可進行根系顏色、連接、拓撲及發育分析